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    首页> ACS applied materials & interfaces> Interfacial Chemistry-Induced Modulation of Schottky Barrier Heights: In Situ Measurements of the Pt-Amorphous Indium Gallium Zinc Oxide Interface Using X-ray Photoelectron Spectroscopy.

    Interfacial Chemistry-Induced Modulation of Schottky Barrier Heights: In Situ Measurements of the Pt-Amorphous Indium Gallium Zinc Oxide Interface Using X-ray Photoelectron Spectroscopy.

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    作者： Brendan T,Flynn [1] ; Richard P,Oleksak [1] ; Suntharampillai,Thevuthasan [2] ; Gregory S,Herman [1]
    作者单位： School of Chemical, Biological and Environmental Engineering, Oregon State University , Corvallis, Oregon 97331, United States. [1] Environmental Molecular Sciences Laboratory, Pacific Northwest National Laboratory , Richland, Washington 99352, United States. [2]
    关键词 IGZORRAMSchottky barrierX-ray photoelectron spectroscopydiode
    DOI 10.1021/acsami.7b18674
    PMID 29313332
    发布时间 2018-07-31
    提交
    • 浏览6
    ACS applied materials & interfaces

    ACS applied materials & interfaces

    2018年10卷4期

    4333-4340页

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