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首页> The journal of physical chemistry letters> Direct Observation of the Dipole-Induced Energetic Disorder in Rubrene Single-Crystal Transistors by Scanning Kelvin Probe Microscopy.

Direct Observation of the Dipole-Induced Energetic Disorder in Rubrene Single-Crystal Transistors by Scanning Kelvin Probe Microscopy.

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第一作者： Yuanyuan,Hu
第一单位： Key Laboratory for Micro-Nano Optoelectronic Devices of Ministry of Education, School of Physics and Electronics , Hunan University , Changsha 410082 , China.
作者： Yuanyuan,Hu [1] ; Lang,Jiang [2] ; Qinjun,Chen [1] ; Jing,Guo [1] ; Zhuojun,Chen [1]
作者单位： Key Laboratory for Micro-Nano Optoelectronic Devices of Ministry of Education, School of Physics and Electronics , Hunan University , Changsha 410082 , China. [1] Beijing National Laboratory for Molecular Sciences, Key Laboratory of Organic Solids, Institute of Chemistry , Chinese Academy of Sciences , Beijing 100190 , China. [2]
DOI 10.1021/acs.jpclett.8b01274
PMID 29763569
发布时间 2018-06-11
提交
  • 浏览9
The journal of physical chemistry letters

The journal of physical chemistry letters

2018年9卷11期

2869-2873页

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