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Disentangling topographic contributions to near-field scanning microwave microscopy images.

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第一作者： K J,Coakley

第一单位： National Institute of Standards and Technology, Boulder, CO 80305, USA. Electronic address: kevin.coakley@nist.gov.

作者： K J,Coakley ^[1] ; S,Berweger ^[2] ; T M,Wallis ^[2] ; P,Kabos ^[2]

作者单位： National Institute of Standards and Technology, Boulder, CO 80305, USA. Electronic address: kevin.coakley@nist.gov. ^[1] National Institute of Standards and Technology, Boulder, CO 80305, USA. ^[2]

关键词 Atomic force microscopy GaN nanowire Near-field scanning probe microwave microscopy Perovskite materials Signal extraction,Statistical methods

DOI 10.1016/j.ultramic.2018.11.003

PMID 30504068

发布时间 2025-05-30

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Ultramicroscopy

2019年197卷

53-64页

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