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首页> Ultramicroscopy> NLPAR: Non-local smoothing for enhanced EBSD pattern indexing.

NLPAR: Non-local smoothing for enhanced EBSD pattern indexing.

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第一作者： Patrick T,Brewick
第一单位： The U. S. Naval Research Laboratory, Materials Science and Technology Division, Washington, DC, 20375, USA. Electronic address: patrick.brewick@nrl.navy.mil.
作者： Patrick T,Brewick [1] ; Stuart I,Wright [2] ; David J,Rowenhorst [3]
作者单位： The U. S. Naval Research Laboratory, Materials Science and Technology Division, Washington, DC, 20375, USA. Electronic address: patrick.brewick@nrl.navy.mil. [1] EDAX, 392 East 12300 South, Suite H, Draper, UT 84020, USA. Electronic address: Stuart.Wright@ametek.com. [2] The U. S. Naval Research Laboratory, Materials Science and Technology Division, Washington, DC, 20375, USA. Electronic address: david.rowenhorst@nrl.navy.mil. [3]
关键词 EBSDKikuchi patternsNon-local means filteringPattern indexing
DOI 10.1016/j.ultramic.2019.02.013
PMID 30825718
发布时间 2019-11-20
提交
  • 浏览11
Ultramicroscopy

Ultramicroscopy

2019年200卷

50-61页

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