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首页> ACS applied materials & interfaces> In Situ TEM Study of the Amorphous-to-Crystalline Transition during Dielectric Breakdown in TiO<sub>2</sub> Film.

In Situ TEM Study of the Amorphous-to-Crystalline Transition during Dielectric Breakdown in TiO<sub>2</sub> Film.

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第一作者： Xinchun,Tian
第一单位： Department of Materials Science and Engineering , Iowa State University , Ames , Iowa 50011 , United States.
作者： Xinchun,Tian [1] ; Chloe,Cook [2] ; Wei,Hong [3] ; Tao,Ma [4] ; Geoff L,Brennecka [2] ; Xiaoli,Tan [1]
作者单位： Department of Materials Science and Engineering , Iowa State University , Ames , Iowa 50011 , United States. [1] Department of Metallurgical and Materials Engineering , Colorado School of Mines , Golden , Colorado 80401 , United States. [2] Department of Mechanics and Aerospace Engineering , Southern University of Science and Technology , Shenzhen , Guangdong 518055 , China. [3] US Department of Energy , Ames Laboratory , Ames , Iowa 50011 , United States. [4]
关键词 TiO2amorphous-to-crystallization transformationdielectric breakdownin situ TEMoxygen migration
医学主题词 结晶(Crystallization);膜, 人工(Membranes, Artificial);显微镜检查, 电子, 透射(Microscopy, Electron, Transmission);钛(Titanium)
DOI 10.1021/acsami.9b08146
PMID 31580643
发布时间 2020-03-25
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ACS applied materials & interfaces

ACS applied materials & interfaces

2019年11卷43期

40726-40733页

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