X-ray diffraction data and analysis to support phase identification in FeSe and Fe<sub>7</sub>Se<sub>8</sub> epitaxial thin films.
作者:
DOI
10.1016/j.dib.2019.104778
PMID
31763420
发布时间
2020-10-01
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Data in brief
2019年27卷
104778页
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