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首页> Journal of nanoscience and nanotechnology> Effect of Word-Line Bias on Linearity of Multi-Level Conductance Steps for Multi-Layer Neural Networks Based on NAND Flash Cells.

Effect of Word-Line Bias on Linearity of Multi-Level Conductance Steps for Multi-Layer Neural Networks Based on NAND Flash Cells.

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第一作者： Sung-Tae,Lee
第一单位： Department of Electrical and Computer Engineering and ISRC (Inter-University Semiconductor Research Center), Seoul National University, Seoul 08826, Korea.
作者： Sung-Tae,Lee [1] ; Suhwan,Lim [1] ; Nagyong,Choi [1] ; Jong-Ho,Bae [1] ; Dongseok,Kwon [1] ; Hyeong-Su,Kim [1] ; Byung-Gook,Park [1] ; Jong-Ho,Lee [1]
作者单位： Department of Electrical and Computer Engineering and ISRC (Inter-University Semiconductor Research Center), Seoul National University, Seoul 08826, Korea. [1]
DOI 10.1166/jnn.2020.17791
PMID 31968431
发布时间 2021-05-27
提交
  • 浏览9
Journal of nanoscience and nanotechnology

Journal of nanoscience and nanotechnology

2020年20卷7期

4138-4142页

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