更多
通知
医学文献 >>
  • 检索发现
  • 增强检索
知识库 >>
  • 临床诊疗知识库
  • 中医药知识库
评价分析 >>
  • 机构
  • 作者
默认
×
更多
在国内外文献保障系统中检索
高级检索 检索偏好
热搜词：
换一批
  • 二次检索
  • 检索历史
论文 期刊
取消
高级检索

检索历史 清除

首页> Microscopy and microanalysis : the official journal of Microscopy Society of America, Microbeam Analysis Society, Microscopical Society of Canada> Fast Pixelated Detectors in Scanning Transmission Electron Microscopy. Part II: Post-Acquisition Data Processing, Visualization, and Structural Characterization.

Fast Pixelated Detectors in Scanning Transmission Electron Microscopy. Part II: Post-Acquisition Data Processing, Visualization, and Structural Characterization.

导出 LinkOut
翻译 打印 收藏 分享
  • 新浪微博
  • 微信
  • QQ空间
  • 豆瓣
 纠错
广告
第一作者： Gary W,Paterson
第一单位： SUPA, School of Physics and Astronomy, University of Glasgow, GlasgowG12 8QQ, UK.
作者： Gary W,Paterson [1] ; Robert W H,Webster [1] ; Andrew,Ross [1] ; Kirsty A,Paton [1] ; Thomas A,Macgregor [1] ; Damien,McGrouther [1] ; Ian,MacLaren [1] ; Magnus,Nord [2]
作者单位： SUPA, School of Physics and Astronomy, University of Glasgow, GlasgowG12 8QQ, UK. [1] SUPA, School of Physics and Astronomy, University of Glasgow, GlasgowG12 8QQ, UK.;EMAT, Department of Physics, University of Antwerp, Antwerp2000, Belgium. [2]
关键词 4D-STEMfast pixelated detectorhigher-order Laue zonescanning precession electron diffractionvirtual detectors
DOI 10.1017/S1431927620024307
PMID 32883393
发布时间 2020-10-12
提交
  • 浏览1
Microscopy and microanalysis : the official journal of Microscopy Society of America, Microbeam Analysis Society, Microscopical Society of Canada

Microscopy and microanalysis

2020年26卷5期

944-963页

相似文献

  • 中文期刊
  • 外文期刊
  • 学位论文
  • 会议论文

加载中！

加载中！

加载中！

加载中！

  • 浏览1

相关期刊

加载中！

法律状态公告日 法律状态 法律状态信息

特别提示：本网站仅提供医学学术资源服务，不销售任何药品和器械，有关药品和器械的销售信息，请查阅其他网站。

  • 客服热线：4000-115-888 转3 (周一至周五：8:00至17:00)

  • |

  • 客服邮箱：yiyao@wanfangdata.com.cn

  • 违法和不良信息举报电话：4000-115-888，举报邮箱：problem@wanfangdata.com.cn，举报专区

官方微信
万方医学小程序
new医文AI 翻译 充值 订阅 收藏 移动端

官方微信

万方医学小程序

使用
帮助
Alternate Text
调查问卷