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首页> Frontiers in plant science> Characterization and Mapping of Spot Blotch in <i>Triticum durum-Aegilops speltoides</i> Introgression Lines Using SNP Markers.

Characterization and Mapping of Spot Blotch in <i>Triticum durum-Aegilops speltoides</i> Introgression Lines Using SNP Markers.

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第一作者： Jashanpreet,Kaur
第一单位： Department of Plant Pathology, Punjab Agricultural University, Ludhiana, India.
作者： Jashanpreet,Kaur [1] ; Jaspal,Kaur [2] ; Guriqbal Singh,Dhillon [3] ; Harmandeep,Kaur [1] ; Jasvir,Singh [2] ; Ritu,Bala [2] ; Puja,Srivastava [2] ; Satinder,Kaur [3] ; Achla,Sharma [2] ; Parveen,Chhuneja [3]
作者单位： Department of Plant Pathology, Punjab Agricultural University, Ludhiana, India. [1] Department of Plant Breeding and Genetics, Punjab Agricultural University, Ludhiana, India. [2] School of Agricultural Biotechnology, Punjab Agricultural University, Ludhiana, India. [3]
关键词 Aegilops speltoidesBipolaris sorokinianaQTLTriticum durumbackcross introgression linesleaf blightspot blotch
DOI 10.3389/fpls.2021.650400
PMID 34122476
发布时间 2021-06-15
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Frontiers in plant science

Frontiers in plant science

2021年12卷

650400页

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