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    Sifting fluctuation scattering from microtextured samples.

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    作者： Antonio,Cervellino
    关键词 X-ray free-electron lasersXFELscorrelated fluctuationscrystalline domainsdynamical studiesfluctuation scatteringintensity correlationspair-angle distribution functionspreferred orientation
    DOI 10.1107/S2052252522002044
    PMID 35371511
    发布时间 2024-08-24
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    IUCrJ

    IUCrJ

    2022年9卷Pt 2期

    167-168页

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