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A Pattern Processing Method to Map Nanoscale Phases by EBSD.

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第一作者： Etienne,Brodu
第一单位： Department of Materials Engineering, Katholieke Universiteit Leuven, Kasteelpark Arenberg 44, B-3001Heverlee, Belgium.
作者： Etienne,Brodu [1] ; Aimo,Winkelmann [2] ; Marc,Seefeldt [1]
作者单位： Department of Materials Engineering, Katholieke Universiteit Leuven, Kasteelpark Arenberg 44, B-3001Heverlee, Belgium. [1] Academic Centre for Materials and Nanotechnology, AGH University of Science and Technology, 30 Mickiewicza, 30-059Kraków, Poland. [2]
关键词 cementiteelectron backscatter diffraction (EBSD)overlapped patternspattern matchingpearlitespatial resolution
DOI 10.1017/S1431927622000526
PMID 35392998
发布时间 2024-02-20
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Microscopy and microanalysis : the official journal of Microscopy Society of America, Microbeam Analysis Society, Microscopical Society of Canada

Microscopy and microanalysis

1-7页

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