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首页> Journal of research of the National Institute of Standards and Technology> A Concept for Three-Dimensional Particle Metrology Based on Scanning Electron Microscopy and Structure-from-Motion Photogrammetry.

A Concept for Three-Dimensional Particle Metrology Based on Scanning Electron Microscopy and Structure-from-Motion Photogrammetry.

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第一作者： Vipin N,Tondare
第一单位： Theiss Research, La Jolla, CA 92037, USA.;National Institute of Standards and Technology, Gaithersburg, MD 20899, USA.
作者： Vipin N,Tondare [1]
作者单位： Theiss Research, La Jolla, CA 92037, USA.;National Institute of Standards and Technology, Gaithersburg, MD 20899, USA. [1]
关键词 algorithm variabilityclose-range photogrammetrycylindrical substratemaximum inscribed cylindermesh processingmulti-angle imagingmultiview geometrypoint cloudscale-invariant feature transformsize and shapesurface reconstructionturntable method
DOI 10.6028/jres.125.014
PMID 35465391
发布时间 2024-08-26
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Journal of research of the National Institute of Standards and Technology

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2020年125卷

125014页

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