High-resolution electron time-of-flight spectrometers for angle-resolved measurements at the SQS Instrument at the European XFEL.
第一作者:
Alberto,De Fanis
第一单位:
European XFEL, Holzkoppel 4, 22869 Schenefeld, Germany.
作者:
DOI
10.1107/S1600577522002284
PMID
35511008
发布时间
2024-08-27
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