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首页> Journal of synchrotron radiation> X-ray diffraction with micrometre spatial resolution for highly absorbing samples.

X-ray diffraction with micrometre spatial resolution for highly absorbing samples.

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第一作者： Prerana,Chakrabarti
第一单位： Physics Department, University of Siegen, 57072 Siegen, Germany.
作者： Prerana,Chakrabarti [1] ; Anna,Wildeis [2] ; Markus,Hartmann [2] ; Robert,Brandt [2] ; Ralph,Döhrmann [3] ; Giovanni,Fevola [3] ; Christina,Ossig [3] ; Michael Elias,Stuckelberger [3] ; Jan,Garrevoet [4] ; Ken Vidar,Falch [4] ; Vanessa,Galbierz [4] ; Gerald,Falkenberg [4] ; Peter,Modregger [1]
作者单位： Physics Department, University of Siegen, 57072 Siegen, Germany. [1] Mechanical Engineering Department, University of Siegen, 57076 Siegen, Germany. [2] Center for X-ray and Nano Science CXNS, Deutsches Elektronen-Synchrotron DESY, 22607 Hamburg, Germany. [3] Deutsches Elektronen-Synchrotron DESY, 22607 Hamburg, Germany. [4]
关键词 X-ray diffractionX-ray fluorescencegoniometershigh photon energyhigh spatial resolution
DOI 10.1107/S1600577522008025
PMID 36345748
发布时间 2024-09-07
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Journal of synchrotron radiation

Journal of synchrotron radiation

2022年29卷Pt 6期

1407-1413页

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