New probes based on carbon nano-cones for scanning probe microscopies.

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第一作者： Robin,Cours

第一单位： Centre d'Elaboration des Matériaux et d'Etudes Structurales (CEMES), UPR8011 CNRS, Université Toulouse 3, 31055 Toulouse, France.

作者： Robin,Cours ^[1] ; Germercy,Paredes ^[2] ; Aurélien,Masseboeuf ^[1] ; Thierry,Ondarçuhu ^[3] ; Grégory,Seine ^[1] ; Pascal,Puech ^[1] ; Raul,Arenal ^[4] ; Fabrice,Piazza ^[5] ; Marc,Monthioux ^[6]

作者单位： Centre d'Elaboration des Matériaux et d'Etudes Structurales (CEMES), UPR8011 CNRS, Université Toulouse 3, 31055 Toulouse, France. ^[1] Centre d'Elaboration des Matériaux et d'Etudes Structurales (CEMES), UPR8011 CNRS, Université Toulouse 3, 31055 Toulouse, France; Laboratorio de Nanociencia, Pontificia Universidad Católica Madre y Maestra, Santiago de Los Caballeros, Dominican Republic. Electronic address: gd.paredes@ce.pucmm.edu.do. ^[2] Centre d'Elaboration des Matériaux et d'Etudes Structurales (CEMES), UPR8011 CNRS, Université Toulouse 3, 31055 Toulouse, France; Institut de Mécanique des Fluides de Toulouse (IMFT), CNRS, Université de Toulouse, Toulouse, France. ^[3] Laboratorio de Microscopias Avanzadas (LMA), Universidad de Zaragoza, 50018 Zaragoza, Spain; Fundación ARAID, 50018 Zaragoza, Spain; Instituto de Nanociencia y Materiales de Aragon (INMA), CSIC-U. Zaragoza, 50009 Zaragoza, Spain. ^[4] Laboratorio de Nanociencia, Pontificia Universidad Católica Madre y Maestra, Santiago de Los Caballeros, Dominican Republic. ^[5] Centre d'Elaboration des Matériaux et d'Etudes Structurales (CEMES), UPR8011 CNRS, Université Toulouse 3, 31055 Toulouse, France. Electronic address: marc.monthioux@cemes.fr. ^[6]

关键词 Carbon cone Focused ion beam processes Graphene Irradiation damages Micromanipulator Scanning probe microscopy

DOI 10.1016/j.ultramic.2022.113667

PMID 36563496

发布时间 2023-01-11

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Ultramicroscopy

2023年245卷

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