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Use of electron backscatter diffraction patterns to determine the crystal lattice. Part 2. Offset corrections.

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作者: Gert,Nolze [1] ; Tomasz,Tokarski [2] ; Łukasz,Rychłowski [2]
作者单位: Federal Institute for Materials Research and Testing (BAM), Unter den Eichen 87, 12205 Berlin, Germany.;Institut für Mineralogie, TU Bergakademie Freiberg, Brennhausgasse 14, 09596 Freiberg, Germany. [1] Academic Centre for Materials and Nanotechnology, AGH University of Science and Technology, Mickiewicza 30, 30-059 Krakow, Poland. [2]
DOI 10.1107/S1600576723000146
PMID 37032975
发布时间 2024-09-16
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Journal of applied crystallography

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