Mapping nanocrystal orientations via scanning Laue diffraction microscopy for multi-peak Bragg coherent diffraction imaging.
第一作者:
Yueheng,Zhang
第一单位:
Department of Materials Science and Engineering, Carnegie Mellon University, Pittsburgh, PA 15213, USA.
作者:
主题词
X线衍射(X-Ray Diffraction);显微镜检查(Microscopy);同步加速器(Synchrotrons);纳米粒子(Nanoparticles);算法(Algorithms)
DOI
10.1107/S160057752300365X
PMID
37255022
发布时间
2023-07-18
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