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首页> Journal of applied crystallography> <i>inserexs</i>: reflection choice software for resonant elastic X-ray scattering.

<i>inserexs</i>: reflection choice software for resonant elastic X-ray scattering.

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第一作者： Antonio,Peña Corredor
第一单位： Université de Strasbourg, CNRS, IPCMS, UMR 7504, 23 rue du Loess, Strasbourg 67200, France.
作者： Antonio,Peña Corredor [1] ; Nathalie,Viart [1] ; Christophe,Lefevre [1]
作者单位： Université de Strasbourg, CNRS, IPCMS, UMR 7504, 23 rue du Loess, Strasbourg 67200, France. [1]
关键词 EXAFSREXSatomic occupanciesatomic positionsinserexsresonant elastic X-ray scatteringthin films
DOI 10.1107/S1600576723002212
PMID 37284260
发布时间 2023-06-08
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Journal of applied crystallography

Journal of applied crystallography

2023年56卷Pt 3期

854-859页

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