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    首页> Micromachines> Remaining Useful Lifetime Prediction Based on Extended Kalman Particle Filter for Power SiC MOSFETs.

    Remaining Useful Lifetime Prediction Based on Extended Kalman Particle Filter for Power SiC MOSFETs.

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    第一作者： Wei,Wu
    第一单位： School of Automation Engineering, University of Electronic Science and Technology of China, Chengdu 611731, China.
    作者： Wei,Wu [1] ; Yongqian,Gu [1] ; Mingkang,Yu [1] ; Chongbing,Gao [1] ; Yong,Chen [1]
    作者单位： School of Automation Engineering, University of Electronic Science and Technology of China, Chengdu 611731, China. [1]
    关键词 Extended Kalman Particle FilterRUL estimationSiC MOSFETsreliability
    DOI 10.3390/mi14040836
    PMID 37421069
    发布时间 2023-07-18
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