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A Novel Low-Power and Soft Error Recovery 10T SRAM Cell.

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第一作者： Changjun,Liu

第一单位： Key Laboratory for Wide Band Gap Semiconductor Materials and Devices of Education Ministry, School of Microelectronics, Xidian University, Xi'an 710071, China.

作者： Changjun,Liu ^[1] ; Hongxia,Liu ^[1] ; Jianye,Yang ^[1]

作者单位： Key Laboratory for Wide Band Gap Semiconductor Materials and Devices of Education Ministry, School of Microelectronics, Xidian University, Xi'an 710071, China. ^[1]

关键词 low power radiation hardness single-event upset (SEU)soft error

DOI 10.3390/mi14040845

PMID 37421077

发布时间 2023-07-18

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