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    首页> Microscopy and microanalysis : the official journal of Microscopy Society of America, Microbeam Analysis Society, Microscopical Society of Canada> Structural Characterization of BaZrS(3-y)Sey Perovskite Thin Films via Scanning Transmission Electron Microscopy.

    Structural Characterization of BaZrS(3-y)Sey Perovskite Thin Films via Scanning Transmission Electron Microscopy.

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    作者： Tigran,Simonian ; Michael,Xu ; Ida,Sadeghi ; Jack,Van Sambeek ; Kevin,Ye ; Rafael,Jaramillo ; James M,LeBeau ; Valeria,Nicolosi
    DOI 10.1093/micmic/ozad067.894
    PMID 37613861
    发布时间 2024-10-16
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    • 浏览0
    Microscopy and microanalysis : the official journal of Microscopy Society of America, Microbeam Analysis Society, Microscopical Society of Canada

    Microscopy and microanalysis

    2023年29卷Supplement_1期

    1731-1732页

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