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首页> Sensors (Basel, Switzerland)> A Novel Approach of a Low-Cost Voltage Fault Injection Method for Resource-Constrained IoT Devices: Design and Analysis.

A Novel Approach of a Low-Cost Voltage Fault Injection Method for Resource-Constrained IoT Devices: Design and Analysis.

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第一作者： Nicolás,Ruminot
第一单位： Department of Electrical Engineering, Universidad de Chile, Santiago 8940577, Chile.
作者： Nicolás,Ruminot [1] ; Claudio,Estevez [1] ; Samuel,Montejo-Sánchez [2]
作者单位： Department of Electrical Engineering, Universidad de Chile, Santiago 8940577, Chile. [1] Programa Institucional de Fomento a la Investigación, Desarrollo e Innovación, Universidad Tecnológica Metropolitana, Santiago 8940577, Chile. [2]
关键词 Internet of Things (IoT)cybersecurityfault injection attackphysical attackresource-constrained device
DOI 10.3390/s23167180
PMID 37631717
发布时间 2023-08-28
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Sensors (Basel, Switzerland)

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2023年23卷16期

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