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首页> Sensors (Basel, Switzerland)> A Micro-Topography Measurement and Compensation Method for the Key Component Surface Based on White-Light Interferometry.

A Micro-Topography Measurement and Compensation Method for the Key Component Surface Based on White-Light Interferometry.

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第一作者： Junying,Chen

第一单位： College of Marine Equipment and Mechanical Engineering, Jimei University, Xiamen 361000, China.

作者： Junying,Chen ^[1] ; Boxuan,Wang ^[1] ; Xiuyu,Chen ^[1] ; Qingshan,Jiang ^[1] ; Wei,Feng ^[1] ; Zhilong,Xu ^[1] ; Zhenye,Zhao ^[1]

作者单位： College of Marine Equipment and Mechanical Engineering, Jimei University, Xiamen 361000, China. ^[1]

关键词 key components stress concentration surface micro-topography white-light interferometry

DOI 10.3390/s23198307

PMID 37837137

发布时间 2023-10-31

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Sensors (Basel, Switzerland)

Sensors (Basel, Switzerland)

2023年23卷19期

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