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Local mapping of surface potential in pentacene thin film under gate bias voltage obtained by scanning kelvin probe microscopy.

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第一作者： Joel,Ndikumana

第一单位： Department of Mechatronics Engineering, Konkuk University Glocal Campus, Chungju, Republic of Korea.

作者： Joel,Ndikumana ^[1] ; Kunsik,An ^[1]

作者单位： Department of Mechatronics Engineering, Konkuk University Glocal Campus, Chungju, Republic of Korea. ^[1]

关键词 conductive atomic force microscopy (C-AFM)gate bias pentacene scanning kelvin probe microscopy (SKPM)topography

DOI 10.1002/jemt.24446

PMID 37921235

发布时间 2024-02-08

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Microscopy research and technique

Microscopy research and technique

2024年87卷3期

470-475页

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