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首页> Microscopy and microanalysis : the official journal of Microscopy Society of America, Microbeam Analysis Society, Microscopical Society of Canada> Statistical Comparison of Substructures in Pure Aluminum Before and After Creep Deformation, Based on EBSD Image Data.

Statistical Comparison of Substructures in Pure Aluminum Before and After Creep Deformation, Based on EBSD Image Data.

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第一作者： Philipp,Rieder
第一单位： Institute of Stochastics, Ulm University, Helmholtzsraße 18, D-89069 Ulm, Germany.
作者： Philipp,Rieder [1] ; Lukas,Petrich [1] ; Itziar,Serrano-Munoz [2] ; Ricardo,Fernández [3] ; Giovanni,Bruno [2] ; Volker,Schmidt [1]
作者单位： Institute of Stochastics, Ulm University, Helmholtzsraße 18, D-89069 Ulm, Germany. [1] Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung, Unter den Eichen 87, D-12200 Berlin, Germany. [2] Centro Nacional de Investigaciones Metalurgicas (CENIM), C.S.I.C., Av. de Gregorio del Amo 8, E-28040 Madrid, Spain. [3]
关键词 crystallographic descriptordislocation-climb-controlled creepelectron backscatter diffraction (EBSD)geometric descriptorkernel average misorientation (KAM)pure aluminumquantificationsegmentationstatistical image analysissubgrain
DOI 10.1093/micmic/ozad121
PMID 37953284
发布时间 2023-12-21
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Microscopy and microanalysis : the official journal of Microscopy Society of America, Microbeam Analysis Society, Microscopical Society of Canada

Microscopy and microanalysis

2023年29卷6期

1889-1900页

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