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    首页> Beilstein journal of nanotechnology> A multi-resistance wide-range calibration sample for conductive probe atomic force microscopy measurements.

    A multi-resistance wide-range calibration sample for conductive probe atomic force microscopy measurements.

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    作者： François,Piquemal [1] ; Khaled,Kaja [1] ; Pascal,Chrétien [2] ; José,Morán-Meza [3] ; Frédéric,Houzé [1] ; Christian,Ulysse [2] ; Abdelmounaim,Harouri [3]
    作者单位： Laboratoire national de métrologie et d'essais - LNE, Trappes, 78197 Cedex, France. [1] Université Paris-Saclay, CentraleSupélec, CNRS, Laboratoire de Génie Électrique et Électronique de Paris, 91192, Gif-sur-Yvette, France. [2] Sorbonne Université, CNRS, Laboratoire de Génie Électrique et Électronique de Paris, 75250, Paris, France. [3] Centre de Nanosciences et de Nanotechnologies - C2N, Université Paris-Saclay, CNRS, UMR 9001, Palaiseau, 91120, France. [4]
    关键词 calibrationconductive probe atomic force microscopymeasurement protocolnanoscaleresistance reference
    DOI 10.3762/bjnano.14.94
    PMID 38034476
    发布时间 2023-12-02
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