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首页> ACS applied materials & interfaces> Thermal Characterization of Ferroelectric Al<sub>1-<i>x</i></sub>B<sub><i>x</i></sub>N for Nonvolatile Memory.

Thermal Characterization of Ferroelectric Al<sub>1-<i>x</i></sub>B<sub><i>x</i></sub>N for Nonvolatile Memory.

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第一作者： Kyuhwe,Kang
第一单位： Department of Mechanical Engineering, The Pennsylvania State University, University Park, Pennsylvania 16802, United States.
作者： Kyuhwe,Kang [1] ; Joseph A,Casamento [2] ; Daniel C,Shoemaker [1] ; Yiwen,Song [1] ; Erdem Z,Ozdemir [2] ; Nathaniel S,McIlwaine [2] ; Jon-Paul,Maria [2] ; Sukwon,Choi [1] ; Susan E,Trolier-McKinstry [2]
作者单位： Department of Mechanical Engineering, The Pennsylvania State University, University Park, Pennsylvania 16802, United States. [1] Department of Materials Science and Engineering, The Pennsylvania State University, University Park, Pennsylvania 16802, United States. [2]
关键词 aluminum boron nitridedevice self-heatingferroelectric random-access memorypolarization switchingthermal conductivitytime-domain thermoreflectancetransient Raman thermometry
DOI 10.1021/acsami.4c14022
PMID 39605168
发布时间 2024-12-12
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ACS applied materials & interfaces

ACS applied materials & interfaces

2024年16卷49期

67921-67933页

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