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    首页> Journal of synchrotron radiation> Image registration for accurate electrode deformation analysis in operando microscopy of battery materials.

    Image registration for accurate electrode deformation analysis in operando microscopy of battery materials.

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    作者： Tianxiao,Sun [1] ; Robert,Peng [2] ; Wenlong,Li [1] ; Yijin,Liu [1]
    作者单位： Walker Department of Mechanical Engineering, The University of Texas at Austin, Austin, TX 78712, USA. [1] McNeil High School, Austin, TX 78729, USA. [2]
    关键词 battery degradationchemomechanical couplingimage registrationoperando imagingoptical flow analysis
    DOI 10.1107/S1600577524012293
    PMID 39902897
    发布时间 2025-02-04
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