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首页> The Review of scientific instruments> Measurement setup for the characterization of integrated semiconductor circuits at cryogenic temperatures.

Measurement setup for the characterization of integrated semiconductor circuits at cryogenic temperatures.

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第一作者： P J,Ritter
第一单位： Institut für Elektrische Messtechnik und Grundlagen der Elektrotechnik, TU Braunschweig, 38106 Braunschweig, Germany.
作者： P J,Ritter [1] ; M-A,Tucholke [1] ; M,Neumann [1] ; J F,Mumme [1] ; A,Meyer [2] ; R,Roederer [3] ; Z,Guo [2] ; A,Pawlak [3] ; V,Issakov [2] ; M,Schilling [1] ; B,Hampel [1]
作者单位： Institut für Elektrische Messtechnik und Grundlagen der Elektrotechnik, TU Braunschweig, 38106 Braunschweig, Germany. [1] Institut für CMOS Design, TU Braunschweig, 38106 Braunschweig, Germany. [2] Infineon Technologies AG, 85579 Neubiberg, Germany. [3]
DOI 10.1063/5.0245525
PMID 40167397
发布时间 2025-04-01
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The Review of scientific instruments

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2025年96卷4期

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