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首页> ACS nano> Progress and Challenges of 2D van der Waals Multi-Valued Logic Technology.

Progress and Challenges of 2D van der Waals Multi-Valued Logic Technology.

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第一作者： Kyu-Hyun,Han
第一单位： School of Electrical Engineering, Korea University, Seoul 02841, Korea.
作者： Kyu-Hyun,Han [1] ; Hyun-Yong,Yu [1]
作者单位： School of Electrical Engineering, Korea University, Seoul 02841, Korea. [1]
关键词 2D van der WaalsMoore’s Lawfuture computing systemheterostructurehomojunctionmulti-valued logicnegative differential resistancenegative differential transconductanceternary logiczero differential transconductance
DOI 10.1021/acsnano.5c02629
PMID 40440357
发布时间 2025-06-10
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ACS nano

ACS nano

2025年19卷22期

20403-20426页

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