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首页> Journal of applied crystallography> On the use of beam precession for serial electron crystallography.

On the use of beam precession for serial electron crystallography.

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第一作者： Sergi,Plana-Ruiz
第一单位： Servei de Recursos Científics i Tècnics Universitat Rovira i Virgili Avinguda Països Catalans 26 Tarragona Catalonia43007 Spain.;LENS-MIND, Department of Electronics and Biomedical Engineering Universitat de Barcelona Martí i Franquès 1 Barcelona Catalonia08028 Spain.
作者： Sergi,Plana-Ruiz [1] ; Penghan,Lu [2] ; Govind,Ummethala [2] ; Rafal E,Dunin-Borkowski [2]
作者单位： Servei de Recursos Científics i Tècnics Universitat Rovira i Virgili Avinguda Països Catalans 26 Tarragona Catalonia43007 Spain.;LENS-MIND, Department of Electronics and Biomedical Engineering Universitat de Barcelona Martí i Franquès 1 Barcelona Catalonia08028 Spain. [1] Ernst Ruska-Centre for Microscopy and Spectroscopy with Electrons Forschungszentrum Jülich Wilhelm-Johnen-Strasse Jülich52425 Germany. [2]
关键词 3D EDSerialEDprecession electron diffractionscanning transmission electron microscopyserial crystallography
DOI 10.1107/S1600576725005606
PMID 40765972
发布时间 2025-08-08
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Journal of applied crystallography

Journal of applied crystallography

2025年58卷Pt 4期

1249-1260页

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