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首页> ACS applied materials & interfaces> Nanomechanical Characterization via Atomic Force Microscopy.

Nanomechanical Characterization via Atomic Force Microscopy.

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第一作者： Jin,Wang
第一单位： Center for Molecular Systems and Organic Devices (CMSOD), State Key Laboratory of Flexible Electronics (LoFE) and Institute of Advanced Materials (IAM), Nanjing University of Posts & Telecommunications (NJUPT), Nanjing 210023, China.
作者： Jin,Wang [1] ; Jun-Qi,Han [1] ; Yong,Yan [1] ; Meng-Na,Yu [1] ; Quan-You,Feng [1] ; Ling-Hai,Xie [2]
作者单位： Center for Molecular Systems and Organic Devices (CMSOD), State Key Laboratory of Flexible Electronics (LoFE) and Institute of Advanced Materials (IAM), Nanjing University of Posts & Telecommunications (NJUPT), Nanjing 210023, China. [1] Center for Molecular Systems and Organic Devices (CMSOD), State Key Laboratory of Flexible Electronics (LoFE) and Institute of Advanced Materials (IAM), Nanjing University of Posts & Telecommunications (NJUPT), Nanjing 210023, China.;School of Flexible Electronics (SoFE) and Henan Institute of Flexible Electronics (HIFE), Henan University, 379 mingli Road, Zhengzhou 450046, China. [2]
关键词 AFM-based nanomechanical mappingatomic force microscopyflexible materialshigh-resolution imagingnanomechanical properties
DOI 10.1021/acsami.5c09987
PMID 40994088
发布时间 2025-10-08
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ACS applied materials & interfaces

ACS applied materials & interfaces

2025年17卷40期

55689-55705页

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