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首页> Biomolecules> Depth Correction of TOF-SIMS Depth Profiling Images Using the Total Ion Count Images.

Depth Correction of TOF-SIMS Depth Profiling Images Using the Total Ion Count Images.

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第一作者： Melanie A,Brunet
第一单位： Department of Chemical and Biomolecular Engineering, University of Illinois Urbana-Champaign, Champaign, IL 61801, USA.
作者： Melanie A,Brunet [1] ; Brittney L,Gorman [2] ; Mary L,Kraft [3]
作者单位： Department of Chemical and Biomolecular Engineering, University of Illinois Urbana-Champaign, Champaign, IL 61801, USA. [1] Center for Biophysics and Quantitative Biology, University of Illinois Urbana-Champaign, Champaign, IL 61801, USA. [2] Department of Chemical and Biomolecular Engineering, University of Illinois Urbana-Champaign, Champaign, IL 61801, USA.;Center for Biophysics and Quantitative Biology, University of Illinois Urbana-Champaign, Champaign, IL 61801, USA. [3]
关键词 TOF-SIMS depth profilingdepth correctionendoplasmic reticulum-plasma membrane junctions
医学主题词 光谱法, 质量, 次级离子(Spectrometry, Mass, Secondary Ion);成像, 三维(Imaging, Three-Dimensional);细胞膜(Cell Membrane);内质网(Endoplasmic Reticulum);人类(Humans);神经元(Neurons);动物(Animals)
DOI 10.3390/biom15091237
PMID 41008544
发布时间 2026-03-30
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Biomolecules

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2025年15卷9期

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