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Experimental System for X-ray Cone-Beam Microtomography

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第一作者： Pan
第一单位： Advanced Microscopy and Imaging Laboratory, Department of Electrical and Computer Engineering, State University of New York, Buffalo, NY 14260
作者： Pan [1] ; Liou ; Shih ; Park ; Wang ; Newberry ; Kim ; Shinozaki ; Cheng
作者单位： Advanced Microscopy and Imaging Laboratory, Department of Electrical and Computer Engineering, State University of New York, Buffalo, NY 14260 [1]
DOI 10.1017/s1431927698980059
PMID 9524146
发布时间 2019-11-20
提交
  • 浏览6
Microscopy and microanalysis : the official journal of Microscopy Society of America, Microbeam Analysis Society, Microscopical Society of Canada

Microscopy and microanalysis

1998年4卷1期

56-62页

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