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首页> The Journal of molecular diagnostics: JMD> Use of Synthetic Mutation Standards to Bolster Validation of DNA Based NGS Panels for Detection of Translocation and Large Indels

Use of Synthetic Mutation Standards to Bolster Validation of DNA Based NGS Panels for Detection of Translocation and Large Indels

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第一作者： Rindler, P. M.
作者： Rindler, P. M. [1] ; Bolia, A. ; Bastien, R. R. ; Margraf, R. L. ; Raney, J. A. ; Hall, A. A. ; Hellwig, S. ; Deftereos, G. ; Grossmann, A. H. ; Matynia, A. P. ; Bernard, P. ; Bronner, M. ; Kennedy, B. ; Furtado, L. V. ; Gee, E. P. ; Gligorich, K. M.
作者单位： ARUP Labs, Salt Lake City, UT USA [1]
发布时间 2020-08-22
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The Journal of molecular diagnostics: JMD

The Journal of molecular diagnostics

2017年19卷6期

1028-1028页

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