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首页> Theoretical and Applied Genetics: International Journal of Breeding Research and Cell Genetics> High-resolution analysis of a QTL for resistance to Stagonospora nodorum glume blotch in wheat reveals presence of two distinct resistance loci in the target interval

High-resolution analysis of a QTL for resistance to Stagonospora nodorum glume blotch in wheat reveals presence of two distinct resistance loci in the target interval

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第一作者： Shatalina, Margarita
作者： Shatalina, Margarita [1] ; Messmer, Monika [2] ; Feuillet, Catherine [3] ; Mascher, Fabio [4] ; Paux, Etienne ; Choulet, Frederic ; Wicker, Thomas ; Keller, Beat
作者单位： Research Station Agroscope Changins-Wdenswil ACW, 1260, Nyon, Switzerland [1] Institute of Plant Biology, University of Zurich, Zollikerstrasse 107, 8008, Zurich, Switzerland [2] INRA, Genetics, Diversity and Ecophysiology of Cereals, 63100, Clermont Ferrand, France [3] Research Institute of Organic Agriculture, 5070, Frick, Switzerland [4]
发布时间 2014-05-17
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Theoretical and Applied Genetics: International Journal of Breeding Research and Cell Genetics

Theoretical and Applied Genetics

2014年127卷3期

573-586页

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