3种根管预备法去除根管玷污层的电镜观察
A scanning electron microscopic study on the effect of root smear layer removal of three instrumentation techniques in root canal preparation
摘要目的 比较逐步后退法、逐步深入法和ProTaper冠向下法3种不同方法预备后牙细弯根管对根管玷污层的作用.方法 选择恒磨牙30颗随机分成3组,分别应用逐步后退法(A组)、逐步深入法(B组)和ProTaper冠向下法(C组)对磨牙近中颊根进行根管预备,取根尖1/3管壁进行扫描电镜观察,评分后进行统计学分析.结果 逐步深入法和ProTaper冠向下法均优于逐步后退法,差异有统计学意义(P<0.05),而逐步深入法和ProTaper冠向下法间差异无统计学意义.结论 逐步深入法和ProTaper冠向下法去除根管玷污层效果较好.
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