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利用背面曝光技术制造大高宽比SU8结构的一种新方法

A New Method for Fabrication of SU8 Structures with a High Aspect Ratio Using a Mask-Back Exposure Technique

摘要提出了一种解决大高宽比SU8结构的新方法.该方法是将SU8胶涂在一块掩模上,紫外光从掩模的背面照射,这样SU8胶的曝光将从底部开始,不需要进行过曝光来保证底部胶的曝光剂量,从而很容易控制曝光剂量和SU8胶结构的内应力.实验结果表明,该方法能够得到高宽比为32的SU8结构,而文献报道的SU8胶结构的高宽比最大仅为18.

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作者 伊福廷 [1] 缪鹏 [2] 彭良强 [1] 张菊芳 [1] 韩勇 [1] 学术成果认领
作者单位 中国科学院高能物理研究所,北京,100039 [1] 英国帝国理工医学院,伦敦 [2]
分类号 TN405
栏目名称
DOI 10.3969/j.issn.1674-4926.2004.01.005
发布时间 2004-02-27(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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