换一批摘要X线头影测量术对口腔正畸学及正颌外科学的发展发挥了非常重要的作用,不仅可以研究分析正常及错的颅面生长发育机制,而且还可以研究矫治前后的牙、颌、面形态结构变化,也是外科正畸的治疗设计、近远期疗效分析的量化基础。目前国内已引进产自不同国家的数字化曲面全景X线机可进行头影测量,由于相应的处理及分析软件较昂贵,而各医院对其已装软件未能充分开发利用。银川市口腔医院引进数字化曲面全景X线机后,研究开发出一简单实用的头影测量法。现报道如下。1 设备和方法数字化曲面全景X线机(ORTHOPHOS DS西诺德公司,德国)、SIDEXIS4.2软件、联想天鹤640PC机、EPSON COLOR800打印机。在SIDEXIS工作窗口登记姓名、科别、出生年月日、程序等,将ORTHOPHOS DS调整到头颅侧位拍摄状态,使患者眶-耳平面与光标重叠,收紧头颅定位架,拍摄。拍摄条件见表1。图像传输到显示器后,在SIDEXIS工作窗先对图像优化,再调节对比度亮度大小等。点击鼠标右键选取已存入的各待测角及线距。点击Analysis菜单:①点击Measure angle可直接测量SNA、SNB。②点击Measure length利用有限长度线距将各常用测定标志点连线,对于在显示器范围内不能相交的两线作任意一与上述两线相交的辅助线(如FH-MP°)。③点击Measure angle测定并记录各测量角度。④点击Measure length测定常用线距。⑤点击打印图标打印测定结果及图像。
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