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一种基于双透镜的暗场显微成像系统

A Dark-field Microscopy Imaging System Based on Two-lens

摘要为了解决传统明场显微无法表征透明无染色大尺寸样品形貌的难题,本文提出了一种基于双透镜的暗场显微成像系统.系统主要包括激光器、空间光调制器(SLM)、双透镜、电荷耦合器件(CCD).由SLM调制产生的环形涡旋光作为照明光,被前透镜聚焦到样品表面,样品被照明后,携带有样品高频信息的散射光被后透镜接收用于物体的暗场成像.试验中先后用木本双子叶植物椴树茎切片和南瓜茎切片作为试验样本,分别对比了两种切片的明暗场成像,结果表明,一种基于双透镜的自建暗场显微成像系统可以提高成像的分辨率和对比度,供透明无染色大尺寸样品形貌表征借鉴并推广使用.

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