4种抛光套装对cercon氧化锆抛光后表面粗糙度的对比研究
Comparative study on surface roughness of polishing cercon zirconia with four polishing tools
摘要目的 评价 4 种不同抛光套装的抛光效果.方法 选择合适的氧化锆试件 50 个,表面使用蓝色金刚砂车针处理至无瑕疵,随机分成 5 组,每组 10 个试件.A组为阴性对照组,B组为EVE组,C组为SHOFU组,D组为道邦组,E组为NAIS组,进行逐级抛光.所有试件每级进行一次处理后,均测量试件表面粗糙度Ra值.每组每一级处理后随机选取一个试件放入真空镀膜仪进行表面喷金,在扫描电镜中抽真空后进行表面形貌观测.结果 最终Ra值:阴性对照组((1.677±0.066)μm)>SHOFU组((0.357±0.037)μm)>EVE组((0.248±0.051)μm)>道邦组((0.115±0.039)μm)、NAIS组((0.123±0.029)μm).扫描电镜观察:使用金刚砂车针在试件表面留下的划痕最深且长,使用抛光套装依次处理试件表面可使试件表面逐渐光滑.经过NAIS组及道邦组抛光后的试件表面在镜下划痕最少且较浅.结论 道邦及NAIS氧化锆抛光套装的抛光效果最好.
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