摘要目的:通过测量第三腭皱区域骨质厚度、骨皮质厚度、黏膜厚度,探究第三腭皱(third palatal ruga,TR)作为临床微螺钉种植体(mini-screw implant anchorage,MIA)植入标志点的合理性.方法:纳入2019年1月～2023年1月间在吉林大学口腔医院正畸科就诊的错牙合畸形患者共30例,平均年龄(18.7±6.5)岁,收集锥体束CT(cone beam computed tomography,CBCT)数据及口扫数据,在BLUE SKY PLAN软件实现匹配.在整合模型上测量腭中缝、腭中缝旁3 mm、腭中缝旁6 mm矢状界面上TR前2 mm(TRA)、TR、TR后2 mm(TRP)位点的黏膜厚度、骨皮质厚度及骨质厚度.通过方差分析(analysis of variance,ANOVA)和多组独立样本秩和检验(Kruskal-Wallis H检验)来比较不同位点黏膜厚度、骨皮质厚度、骨质厚度的差异.采用Tukey检验及 Mann-Whitney U检验进行两两比较.结果:在同一冠状截面上,由远中向近中腭部骨质由厚变薄,腭中缝处骨质厚度显著减少(P<0.05),腭中缝处骨皮质厚度显著小于腭中缝旁骨皮质厚度(P<0.017),腭中缝与腭中缝旁6 mm黏膜厚度差异具有统计学意义(P<0.017).在同一矢状截面上,骨质厚度在腭中缝区域由前向后增加(P<0.017),在腭中缝旁区域前后向骨质厚度差异不明显(P>0.05),骨皮质厚度由前向后变化不显著(P>0.05),黏膜厚度由前向后变化不显著(P>0.017).结论:在进行 MIA植入时,TR区域除腭中缝外均可以选择8 mm长度 MIA,其中腭中缝旁3 mm可以选择颈部长度1.5 mm MIA,腭中缝旁6 mm可以选择颈部长度2 mm MIA.在TR区域腭中缝进行 MIA植入时,CBCT检查是必要的,以确保植入过程中不会损伤鼻腭管.在TR区域腭中缝旁进行 MIA植入时,可以认为该区域是安全区域,从而减少CBCT检查次数.TR作为标志点,与牙邻接点相比,更接近 MIA植入安全区域,更容易定位植入位点.