极低出生体质量儿脑损伤及高危因素分析

Risk factors of brain injury in very low birth weight infants

二维码有效期 120s

摘要目的调查极低出生体质量儿脑损伤发病情况,分析其高危因素,以降低发病率,改善神经发育预后.方法回顾性分析181例极低出生体质量儿脑损伤发生情况,分析脑损伤组与无损伤组在基本情况、产科病理症、干预措施、合并症方面的差异,并对相关危险因素行Logistic回归分析.结果 181例极低出生体质量儿中检出脑损伤 78例,发生率43.09%.其中,脑室周围-脑室内出血(PVH-IVH)67例(Ⅰ级43例,Ⅱ级12例,Ⅲ级10例,Ⅳ级2例),发生率37.01%;脑室周围白质软化(PVL)12例,发生率6.63%,其中1例合并Ⅲ级IVH.胎龄越低,脑损伤发生率越高;脑损伤组与无损伤组在性别、胎数、出生体质量、分娩方式、宫内窘迫、胎膜早破、母亲妊高征、胎盘早剥、宫内发育迟缓(IUGR)方面差异均无统计学意义(P ＞ 0.05).在治疗措施方面,除氨茶碱两组无差异外,应用肺表面活性物质(PS)、经鼻持续正压通气(nCPAP)、常频通气、高频通气治疗在脑损伤发生率方面差异均有统计学意义(P ＜ 0.05).在合并症方面,两组在窒息、新生儿呼吸窘迫综合征(NRDS)、高碳酸血症、代谢性酸中毒、高血糖、贫血、动脉导管未闭(PDA)发生率差异有统计学意义(P ＜ 0.05),在低血糖、败血症、血小板减少、呼吸暂停、肺出血、高胆红素血症差异无统计学意义(P ＞ 0.05).Logistic回归分析显示NRDS、PDA、高频震荡通气是脑损伤最重要的高危因素.结论极低出生体质量儿是脑损伤高危人群.应用PS、nCPAP、常频通气、高频通气以及窒息、NRDS、高碳酸血症、代谢性酸中毒、高血糖、贫血、PDA与脑损伤发生相关联,其中NRDS、PDA、高频震荡通气是重要高危因素.