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SWI及DTI在弥漫性轴索损伤慢性期的应用价值

Application values of SWI and DTI in the chronic stage of diffuse axonal injury

摘要目的 探讨磁敏感加权序列(SWI)及扩散张量成像(DTI)在弥漫性轴索损伤(DAI)慢性期的应用价值.方法 对12例CT及常规MRI无明显异常DAI慢性期的患者,15例轻度脑外伤复查患者及15例健康志愿者进行超高场MR扫描,MRI采用GE Signa EXCITE Ⅱ磁共振扫描系统,序列包括T2*GRE、SWI、DTI,由两名高年资放射科诊断医师共同分析MR图像,对出血灶进行计数.在FA图上分别测量脑内多个感兴趣区的FA值.并将发现出血灶的数量及测得分数各向异性(FA)值分别与患者的GOS评分进行相关性分析.结果 在DAI中,SWI序列能发现更多的出血灶,与T2*GRE相比差异显著(P<0.01).在轻度脑外伤及健康对照组均未发现微出血灶;DAI组与轻度脑外伤组相比,除了顶叶、丘脑、胼胝体压部,其他感兴趣区的FA值、DAI组与健康对照组相比,所有的感兴趣区的FA值均有显著性差异(P<0.05).轻度脑外伤组及健康对照组间无明显差异(P>0.05);DAI患者中,出血灶的数量、胼胝体膝部的FA值与COS评分相关(r=-0.677 5,P=0.031 4;r=0.836 0,P=0.009 7).结论 SWI及DTI可以更清晰的显示DAI病变,并可以评价其损伤的程度.

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