换一批二维半导体阵列在调强放疗平面剂量验证中的应用
On Application of 2D Semiconductor Array in the Verification of Planar Does in IMRT
摘要目的：二维半导体阵列在调强放疗中剂量验证中的作用。方法：在二维半导体阵列探头上附加5cm 等效水模体，对96例患者的IMRT 计划以Map CHECK 2二维半导体阵列进行计量学验证，对比分析。结果：Map CHECK 2二维半导体阵列具有较好的测量重复性与稳定性最大偏差不足0．4％，而在剂量线性验证中表现较好，剂量与距离误差为3％／3mm 与2％／2mm 条件下，DTA标准的绝对剂量为99．46％与91．11％，相对剂量为98．21％与96．73％，γ标准的绝对剂量为99．94％与92．93％，相对剂量为99．16％与98．27％。结论：Map CHECK 2二维半导体阵列能够准确有效验证强调放疗中的绝对剂量与相对剂量，同时就方便简单的优势，适合推广应用。
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关键词
二维半导体阵列Map CHECK调强放疗平面剂量验证2D semiconductor arrayMap CHECKintensity modulated radiotherapy(IMRT)verifica-tion of planar does
分类号
R815（放射医学）
栏目名称
DOI
10.3969/j.issn.1004-4337.2015.07.078
发布时间
2015-07-24（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
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