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Si在燕麦籽粒中的富集及其与其它8种元素的关系

Accumulation of silicon in different genotypes of oat grains and its relationship with other eight elements

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摘要通过环境扫描电镜结合X射线电子探针显微分析技术,对22个基因型的燕麦籽粒皮层、糊粉层、近糊粉层和颖果中部的Si含量进行测定.结果表明,Si元素在燕麦籽粒不同部位的含量有明显差异,皮层和糊粉层Si含量较高,近糊粉层和颖果中部含量较低,在颖果中Si主要富集在糊粉层中;而且不同基因型燕麦籽粒同一部位或不同部位Si的积累量也有较大差异,这可能是由遗传差异引起的.糊粉层中的Si含量影响着近糊粉层和颖果中部的Si含量.另外,籽粒不同部位Si含量与P、Ca、Mg、S、Al、Pb含量之间存在显著或极显著的非线性关系,颖果中部的Si含量与K、Cd含量之间不存在显著的非线性关系.说明Si在燕麦籽粒中富集的同时也影响着P、Ca、Mg、S、Al、Pb等元素的富集.

作者张国良 ^[1] 樊明寿 ^[2] 陈刚 ^[3] 刘娟 ^[3] 周卫东 ^[3] 孙国荣 ^[4] 学术成果认领

作者单位扬州大学江苏省作物遗传生理重点实验室,扬州,225009;淮阴工学院生命科学与化学工程学院,淮安,223001 ^[1] 内蒙古农业大学农学院,内蒙古呼和浩特,010019 ^[2] 扬州大学江苏省作物遗传生理重点实验室,扬州,225009 ^[3] 扬州大学江苏省作物遗传生理重点实验室,扬州,225009;滨州职业学院,滨州,256624 ^[4]

关键词燕麦籽粒 Si X射线电子探针显微分析富集 oat grain silicon X-ray electron probe microanalysis accumulation

医学主题词燕麦属(Avena)元素(Elements)电子(Electrons)基因型(Genotype)环境(Environment)

分类号 Q143（生态学《生物生态学》）

栏目名称

研究简报

DOI 10.3321/j.issn:1000-0933.2009.12.064

发布时间 2010-02-23（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

基金项目

国家自然科学基金（30770344,30270234;30600073）国家科技重大专项（2007AA021402）江苏省高等学校"青蓝工程"优秀青年骨干教师资助项目（2006;HAC0823）