摘要背景:前期研究发现持续过量氟暴露导致的神经细胞受损与Ca2+超载有关,但Ca2+在细胞内各钙库之间的流动转换和细胞凋亡损伤的作用机制尚不明确.目的:探讨氟暴露对原代神经细胞线粒体相关内质网膜内Ca2+转运通道蛋白及细胞凋亡水平的影响.方法:体外培养新生SD大鼠原代神经细胞,培养至第7天采用神经元核特异性抗体NeuN行免疫荧光染色鉴定.神经细胞按照加氟浓度分为对照组(含0 mmol/L氟化钠)、低氟组(含0.5 mmol/L氟化钠)、高氟组(含1 mmol/L氟化钠),氟暴露24 h后光镜下观察细胞形态变化;蛋白免疫印迹检测凋亡相关蛋白BAX/BCL-2和钙转移相关通路VDAC1、GRP75、IP3R蛋白表达;RT-PCR检测钙转移相关通路VDAC1、GRP75、IP3R mRNA表达;线粒体Ca2+探针Rhod-2AM检测Ca2+水平;线粒体膜电位试剂盒检测线粒体膜电位变化;流式细胞术、TUNEL染色法检测细胞凋亡水平.结果与结论:①培养至第7天的神经细胞经鉴定纯度可达90％以上,杂质少,生长状态良好,细胞网络连接紧密,达到后续实验要求;②与对照组相比,低氟组和高氟组神经细胞聚团生长增多,突起断裂,胞体圆缩,细胞之间连接网络被破坏;与低氟组相比,高氟组细胞损伤变化更为明显;③与对照组比较,低氟组和高氟组VDAC1、GRP75、IP3R蛋白表达上调(P＜0.05),凋亡相关蛋白BAX/BCL-2比值升高(P＜0.05);与对照组相比,低氟组VDAC1、GRP75 mRNA表达明显上调(P＜0.05),高氟组VDAC1、GRP75、IP3R mRNA表达显著上调(P＜0.01);④氟暴露处理后细胞凋亡水平明显上升,且高氟组显著高于对照组和低氟组(P＜0.01);⑤氟暴露处理后神经细胞线粒体Ca2+浓度明显增加(P＜0.05),线粒体膜电位下降(P＜0.01),且高氟组损伤程度更为明显(P＜0.05).结果表明,氟暴露会损害原代神经细胞的形态结构,导致细胞内质网-线粒体间Ca2+转移通路蛋白表达上调,线粒体Ca2+超载,线粒体损伤,细胞凋亡水平升高.