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首页 > 现代仪器 > 利用原子力显微镜探测化学基团间的单键力

利用原子力显微镜探测化学基团间的单键力

Investigations of Single-Bond Forces between Chemical Groups with Atomic Force Microscope

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学术成果认领

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摘要原子力显微镜(AFM)不仅可用于形貌测量,而且还可在纳米尺度上测量微观组分间的相互作用力.本文简要介绍了AFM的一种令人非常感兴趣的用途--测量和推算单个化学基团对之间的作用力(单键力).单键力的测量和推算涉及AFM针尖的自组装单分子膜的化学修饰和Poisson统计方法的利用,文中概述了测量和推算的步骤和原理.AFM应用范围的拓宽必将促进它的进一步改进和发展.

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作者魏钟晴 ^[1] 王琛 ^[1] 白春礼 ^[1] 学术成果认领

作者单位中国科学院化学研究所纳米科学与技术青年实验室,北京,100080 ^[1]

关键词原子力显微镜(术)粘附力单键力自组装单分子膜 Poisson统计

主题词显微镜检查, 原子力(Microscopy, Atomic Force)化学(Chemistry)膜(Membranes)方法(Methods)

分类号 TH74

栏目名称 综述与专论

DOI 10.3969/j.issn.1672-7916.2000.04.001

发布时间 2005-10-13

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现代仪器

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1-5页

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