摘要该文描述了采用HPGeγ谱仪通过相对比较法处理受干扰放射性核素时,放射性核素在消除干扰前后的异常活度而引发对干扰校正的研究.结果表明,若刻度源为混合源,且含受干扰不可忽略的待分析核素,无论是否对样品中待分析核素进行校正,则都要对刻度源中待分析受干扰核素进行校正.
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摘要该文描述了采用HPGeγ谱仪通过相对比较法处理受干扰放射性核素时,放射性核素在消除干扰前后的异常活度而引发对干扰校正的研究.结果表明,若刻度源为混合源,且含受干扰不可忽略的待分析核素,无论是否对样品中待分析核素进行校正,则都要对刻度源中待分析受干扰核素进行校正.
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