摘要目的 使用自制简易模体和标准模体分别对单光子发射型计算机断层显像仪(Single-Photon Emission Computed Tomography,SPECT)设备的系统性能指标系统空间分辨力和系统平面灵敏度进行检测,分析2种模体检测结果的差异,评价简易模体应用于SPECT系统性能评估的可行性.方法 采用GE Discovery NM/CT 670 Pro显像系统,参考国家标准WS 523-2019和美国电器制造商协会(NEMA)标准NU-1-2012,根据测量要求,采用标准模体和自制简易模体分别制备99mTc平面源和双线源,在标准检测条件下使用2种模体测量系统平面灵敏度和系统空间分辨力,并记录测量结果.改变源到探头的距离,其他采集条件不变,在不同源距下分别采用标准模体和简易模体进行检测,分析2种模体测得数据的差异性和一致性.结果 在标准检测条件下,使用简易双线源模体和标准双线源模体测得系统空间分辨力差异无统计学意义(探头1:Z=-1.184,P=0.854>0.05,探头2:Z<0.001,P=1.000>0.05);使用简易平面源模体和标准平面源模体测得系统平面灵敏度差异无统计学意义(探头1:Z=-1.826,P=0.068>0.05,探头2:Z=-1.841,P=0.066>0.05).在不同源距下分别用简易模体和标准模体进行系统性能指标检测,2种模体测得组间系统空间分辨力(Z=-1.460,P=0.144>0.05)和系统平面灵敏度(Z=-1.830,P=0.068>0.05)差异均无统计学意义.Bland-Altman分析结果显示,简易模体和标准模体测得系统空间分辨力(差值95%CI:-1.036～2.186)和系统平面灵敏度(差值95%CI:0.842～12.158)一致性均良好.结论 采用自制简易模体可在核医学科基础条件下实现SPECT系统空间分辨力和系统平面灵敏度的自主检测,为设备系统性能的快速评估提供了有效替代方案.